Mikroskopoptik für die Inspektion von Leiterplatten
Infrarottechnologie auf dem Vormarsch
(IINews) - Durch die zunehmende Miniaturisierung und Dichte elektronischer Bauteile auf Leiterplatten setzen immer mehr Hersteller bei der thermischen Qualitätsprüfung auf Wärmebildkameras zur Temperaturmessung. In kurzer Zeit lässt sich das thermische Verhalten einzelner Bauteile und Komponenten bestimmen, Fehler sowie Schwachstellen werden rechtzeitig identifiziert und vermieden.
Die neu entwickelte Mikroskopoptik für die Infrarotkameras IR 450 und IR 640 ermöglicht die noch genauere und zuverlässigere Temperaturmessung an Leiterplatten. Dabei können sowohl die gesamte Leiterplatte als auch detaillierte Nahbereiche mit einer Auflösung von 28?m fokussiert werden. Der Messabstand zwischen Kamera und Objekt ist zwischen 80 und 100mm variierbar. Die im Lieferumfang enthaltene hochwertige Tischhalterung erlaubt eine einfache, dabei stets präzise Feinjustierung der Kamera.
Für die schnelle Messwerterfassung steht eine lizenzfreie Analysesoftware zur Verfügung. Mit Hilfe einer leistungsfähigen Software können mit der Definition von beliebig vielen Messfenstern die Maximum-, Minimum-, und Mittelwert-Temperaturen ausgegeben sowie Schwellwerte für Alarmsingale programmiert werden.
Die IR 640 kann selbst bei hoher Auflösung von 640 x 480 Pixel eine Videoaufzeichnung mit 32 Bildern pro Sekunde erzeugen. Dies erlaubt auch eine nachträgliche Untersuchung mit Hilfe der Zeitlupenfunktion. Bei geringerer Auflösung können Bildraten bis zu 125 Hz für die Inspektion sehr schneller Prozesse, wie z.B. bei gepulsten Laserdioden, eingestellt werden.
Die IR 450 eignet sich mit einer thermischen Empfindlichkeit von bis zu 40mK (90mK bei Mikroskopoptik) speziell zur Detektion minimaler Temperaturunterschiede. Dies ist vor allem bei der detaillierten Untersuchung von Wärmepfaden unverzichtbar. Dem Nutzer steht bei diesem IR-Kamerasystem weiter die Möglichkeit zur Verfügung, auf verschiedene andere austauschbare und fokussierbare Optiken mit größere Brennweiten zuzugreifen.
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Datum: 02.02.2018 - 16:05 Uhr
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